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北京電弱點(diǎn)測(cè)試儀廠家-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

電弱點(diǎn)測(cè)試儀-主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印.

電弱點(diǎn)測(cè)試儀器-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

耐電弧測(cè)試儀20kv是根據(jù)GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》（等同IEC 61621-1997）及ASTM 495等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，并符合IEC 149、U...

耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》（等同IEC 61621-1997）及ASTM 495等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，并符合IEC 149、UL ...

耐電弧測(cè)試試驗(yàn)機(jī)適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕...

耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀設(shè)備適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電...

高電壓耐電弧試驗(yàn)儀適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣...

高低溫電阻率測(cè)試儀試驗(yàn)臺(tái)高低溫試驗(yàn)臺(tái)是通用試驗(yàn)設(shè)備，可以根據(jù)用戶的需求，配備不同的測(cè)試工裝和夾具，通過(guò)和不同的測(cè)試主機(jī)配套使用，可以用于高低溫絕緣電阻率、高低溫導(dǎo)體電阻率、高低溫介電性能測(cè)試。

耐電弧測(cè)試檢測(cè)儀是根據(jù)GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》（等同IEC 61621-1997）及ASTM 495等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，并符合IEC 149、UL ...

高電壓起痕試驗(yàn)儀適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕...

大電流溫升試驗(yàn)機(jī)裝置，采用PLC與觸摸屏控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)的全自動(dòng)大電流檢測(cè)設(shè)備。該發(fā)生器能夠?qū)崿F(xiàn)最大1000A電流輸出，2路溫度采集1路溫度控制。能夠?qū)⒉杉臏囟扰c電流使用曲線圖的方式進(jìn)行顯示。設(shè)備具有...

絕緣材料體積表面電阻率試驗(yàn)儀本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ～1&#...

高低溫絕緣材料電阻率測(cè)試試驗(yàn)儀高低溫試驗(yàn)臺(tái)是通用試驗(yàn)設(shè)備，可以根據(jù)用戶的需求，配備不同的測(cè)試工裝和夾具，通過(guò)和不同的測(cè)試主機(jī)配套使用，可以用于高低溫絕緣電阻率、高低溫導(dǎo)體電阻率、高低溫介電性能測(cè)試。